Prywatne
Rok wydania: 2001
Stan: Używane
Opis
Specyfikacja książki:
Tytuł: Graficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania
komputerowych systemów pomiarowo-kontrolnych
Wydawnictwo: Wydawnictwo MICOM, Warszawa
Rok wydania: 2001
ISBN: 83-7279-178-3
Autorzy: W. Winiecki, J. Nowak, S. Stanik
Rodzaj okładki: miękka, lakierowana
Liczba stron: 288
Wymiary: 16 cm x 23 cm
Stan techniczny: idealny, ponieważ książka nigdy nie była w użyciu.
Spis treści książki przedstawiają fotografie 1-3, a Wstęp - fotografie 3-4.
W książce zawarto analizę zintegrowanych środowisk pomiarowych -
LabWindows/CVI (National Instruments), LabVIEW 6i,
VEE (Hewlett-Packard/Agilent), Test Point (Keithley Instruments),
DasyLab (Dasytec) oraz zintegrowanych środowisk automatyki
przemysłowej - BridgeVIEW i Lookout (National Instruments),
GeniDAQ (Advantech).
Przedstawiono metodykę projektowania systemów, a w zakresie
środowisk pomiarowych dokonano ich eksperymentalnej weryfikacji.
Książka ukazuje możliwości, jakie mają współczesne graficzne,
zintegrowane środowiska programowe zarówno pomiarowe, jak
i automatyki przemysłowej. Podejmuje próbę oceny jakościowej
badanych środowisk oraz wskazuje na problemy mogące wyłonić się
w procesie projektowania systemów pomiarowych.
Proszę o przemyślany zakup, ponieważ zwrotów nie przyjmuję.
Preferowany sposób wysyłki: InPost Paczkomaty 24/7.
Tytuł: Graficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania
komputerowych systemów pomiarowo-kontrolnych
Wydawnictwo: Wydawnictwo MICOM, Warszawa
Rok wydania: 2001
ISBN: 83-7279-178-3
Autorzy: W. Winiecki, J. Nowak, S. Stanik
Rodzaj okładki: miękka, lakierowana
Liczba stron: 288
Wymiary: 16 cm x 23 cm
Stan techniczny: idealny, ponieważ książka nigdy nie była w użyciu.
Spis treści książki przedstawiają fotografie 1-3, a Wstęp - fotografie 3-4.
W książce zawarto analizę zintegrowanych środowisk pomiarowych -
LabWindows/CVI (National Instruments), LabVIEW 6i,
VEE (Hewlett-Packard/Agilent), Test Point (Keithley Instruments),
DasyLab (Dasytec) oraz zintegrowanych środowisk automatyki
przemysłowej - BridgeVIEW i Lookout (National Instruments),
GeniDAQ (Advantech).
Przedstawiono metodykę projektowania systemów, a w zakresie
środowisk pomiarowych dokonano ich eksperymentalnej weryfikacji.
Książka ukazuje możliwości, jakie mają współczesne graficzne,
zintegrowane środowiska programowe zarówno pomiarowe, jak
i automatyki przemysłowej. Podejmuje próbę oceny jakościowej
badanych środowisk oraz wskazuje na problemy mogące wyłonić się
w procesie projektowania systemów pomiarowych.
Proszę o przemyślany zakup, ponieważ zwrotów nie przyjmuję.
Preferowany sposób wysyłki: InPost Paczkomaty 24/7.
ID: 793423193
Skontaktuj się
xxx xxx xxx
Dodane 01 czerwca 2024
Graficzne zintegrowane środowiska programowe
Tylko przedmiot
20 zł
Cena z Przesyłką OLX
Lokalizacja